Art. Nr.: NZ7-3011

Das Schichtdickenmessgerät Leptoskop 2042 dient zur Messung von nichtmagnetischen Schichten auf magnetisierbaren Substraten (nach DIN EN ISO 2178) und zur Messung von nichtleitenden Schichten auf nichtmagnetischem , leitfähigem Grundmaterial nach dem Wirlbelstromprinzip (nach DIN EN ISO 2360).